第14回 阿部研OB/OGゼミ
（どなたでもおいでいただけます）
| 題目： | テスト容易化設計技術の紹介 |
| 話者： | 前田洋一 |
| ルネサステクノロジ 製品技術本部 設計技術統括部 システム設計技術開発部 （2002年3月博士前期課程修了) |
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| 日時： | 2008年5月10日（土） 午後3:30～5:00 |
| 場所： | 電気通信大学情報工学科 AVホール（西9-3F） （大学サイト キャンパスマップ） |
| 概要： | プロセスの微細化や、システムの大規模化、複雑化にともない、製品のテストに関するコストが問題とされています。そのため、近年のLSI設計においては、テスト容易化設計が必須となっております。今回のゼミでは、テスト容易化設計技術としてよく利用されているスキャン設計について紹介します。また、米国滞在時の生活や、体験を紹介できればと思います。 |
連絡先：情報工学科・阿部公輝 